-
1 schlieren interferometry
Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > schlieren interferometry
См. также в других словарях:
Теневой метод исследования — метод обнаружения оптических неоднородностей в прозрачных преломляющих средах и дефектов отражающих поверхностей (например зеркал); один из основных оптических методов исследования течений. Оптическая схема теневого прибора (прибора Тёплера),… … Энциклопедия техники
теневой метод исследования — Рис. 1. Оптическая схема теневого прибора. теневой метод исследования метод обнаружения оптических неоднородностей в прозрачных преломляющих средах и дефектов отражающих поверхностей (например зеркал); один из основных оптических методов… … Энциклопедия «Авиация»
теневой метод исследования — Рис. 1. Оптическая схема теневого прибора. теневой метод исследования метод обнаружения оптических неоднородностей в прозрачных преломляющих средах и дефектов отражающих поверхностей (например зеркал); один из основных оптических методов… … Энциклопедия «Авиация»
СССР. Естественные науки — Математика Научные исследования в области математики начали проводиться в России с 18 в., когда членами Петербургской АН стали Л. Эйлер, Д. Бернулли и другие западноевропейские учёные. По замыслу Петра I академики иностранцы… … Большая советская энциклопедия
СВЕТ — СВЕТ, вид лучистой энергии, воспринимаемой человеческим глазом. По шкале длин волн лучистой энергии видимый участок спектра простирается от 0,4 ju до 0,75 // (см. Лучистая энергия, Сеетоощущениё). Часто термину свет придают более широкое… … Большая медицинская энциклопедия
Бондур, Валерий Григорьевич — Валерий Григорьевич Бондур Дата рождения: 28 октября 1947(1947 10 28) (65 лет) Место рождения: Полтава Страна … Википедия
Дефектоскопия — I Дефектоскопия (от лат. defectus недостаток и ...скопия) комплекс методов и средств неразрушающего контроля материалов и изделий с целью обнаружения дефектов. Д. включает: разработку методов и аппаратуру (дефектоскопы и др.); составление … Большая советская энциклопедия
Дефектоскопия — I Дефектоскопия (от лат. defectus недостаток и ...скопия) комплекс методов и средств неразрушающего контроля материалов и изделий с целью обнаружения дефектов. Д. включает: разработку методов и аппаратуру (дефектоскопы и др.); составление … Большая советская энциклопедия